Park Systems XE-100E Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) Cihazı Teknik Özellikleri

• Yapılan analiz: Üç boyutlu yüzey analizi
• Maksimum örnek büyüklüğü: 100 mm x 100 mm x 20 mm
• Maksimum örnek ağırlığı: 500 g
• X-Y tarama büyüklüğü: 100 µm x 100 µm
• Z ölçüm aralığı: 12 µm
• Çalışma modları:
• Non-contact mode AFM
• Contact mode AFM

  ---

  Analiz İstek Formuna Ulaşmak İçin Tıklayınız...