JEOL JSM 6510 Taramalı Elektron Mikroskop (SEM) Cihazı Teknik Özellikleri

• Çalışma voltaj aralığı: 500V-30kV
• Büyütme aralığı: x5-x300.000
• Çalışma tipi: yüksek vakum altında
• Numune tabla boyutları: 80mm(uzunluk)x 40mm(genişlik)x 65mm(derinlik). Numune tablaları sayesinde numune incelenirken eğdirme ve döndürme de yaparak farklı açılardan görüntü alabilmekteyiz.
• Detektör: ikincil elektron (Secondary Electron) ve derinden saçılan elektron (Back Scattered Electron) detektörleri bulunmaktadır. Bu detektörlerle sıvı olmayan, iletken olan ya da olmayan numunelerin (örneğin; metaller, tekstiller, fiberler, plastik polimerler, polen, taş, çakıl, toprak biyolojik numuneler gibi) yüzey  incelemeleri yapılarak görüntülenebilmektedir.
• EDX detektörü ile malzeme içerisindeki yapıların nitel ve nicel elementel analizi yapılabilmekte ve haritalandırma ile malzemelerin dağılımı belirlenebilmektedir.
• Numune analizi ve veriler: İletken olmayan numuneler Sputter Coater denilen kaplama cihazı ile altın-palladyum ile homojen bir şekilde kaplanarak incelenebilmektedir.
• Ayrıca ıslak biyolojik numuneler de gerekli doku takibi yapıldıktan sonra Critical Point Drier denilen kurutma cihazında kurutulup kaplama cihazında kaplandıktan sonra incelenebilmektedir.
• İletken numuneler kaplamaya gerek olmadan incelenebilmektedirler.
• Görüntüler yüksek çözünürlükle dijital olarak çekilmekte; istenildiği takdirde dijital olarak kaydedilmekte, siyah-beyaz negatif filme çekilebilmekte ya da video-copy baskı yapılabilmektedir.
• Dijital görüntü üzerinde en, boy, uzunluk, açı ölçümleri yapılabilmektedir.
• Filaman: tungsten

  ---

Analiz İstek Formuna Ulaşmak İçin Tıklayınız...