X-Işını Difraksiyonu (XRD)

RIGAKU ULTIMA IV X-Ray Kırınım Spektrometresi (XRD) Cihazı Teknik Özellikleri

  • Tüp Şekli: 2 kW X-Ray Bakır tüp
  • Tarama Şekli: Paralel Işın Demeti Taraması, Bragg-Brentano Taraması
  • Yüksek Sıcaklık Ünitesi: Oda sıcaklığından 1500 ºC ‘ye kadar
  • Detektör: Sintilasyon detektörü, Hızlı detektör ve Monokromatör desteği.
  • Monokromatör: Monokromatize X-ışını elde edilmesini sağlayan, yüksek çözünürlükte Grafit Monokromatör bulunmaktadır.
  • Optik: Çapraz ışın optik mekanizması (CBO). Yeni bir ayar ve düzenleme yapılmaksızın odak ya da paralel ışın geometrisinde çalışabilme imkânı sağlar.
  • Cihazla Yapılabilecek Testler;
  • Toz ve bulk numunelerde kristal yapı ve faz analizleri
  • Hasarsız Kalıntı Gerilim Ölçümleri
  • Kristal Yönelim Derecesi Analizleri (Texture-Pole Figure)
  • Yüksek Sıcaklık Analizleri ( 0 ºC - 1500 ºC)
  • İnce Film Analizleri (GI-XRD)
  • Mikro alan noktasal analiz (400 µm)
  • Kantitatif Faz Analizler
  • Polimerlerin analizleri
  • İlaç endüstrisinde belli bir malzeme içindeki polimorfların ve safsızlıkların tespit analizlerinde
  • Metal ve alaşım analizlerinde

Analiz İstek Formuna Ulaşmak İçin Tıklayınız...