X-Işını Difraksiyonu (XRD)
RIGAKU ULTIMA IV X-Ray Kırınım Spektrometresi (XRD) Cihazı Teknik Özellikleri
- Tüp Şekli: 2 kW X-Ray Bakır tüp
- Tarama Şekli: Paralel Işın Demeti Taraması, Bragg-Brentano Taraması
- Yüksek Sıcaklık Ünitesi: Oda sıcaklığından 1500 ºC ‘ye kadar
- Detektör: Sintilasyon detektörü, Hızlı detektör ve Monokromatör desteği.
- Monokromatör: Monokromatize X-ışını elde edilmesini sağlayan, yüksek çözünürlükte Grafit Monokromatör bulunmaktadır.
- Optik: Çapraz ışın optik mekanizması (CBO). Yeni bir ayar ve düzenleme yapılmaksızın odak ya da paralel ışın geometrisinde çalışabilme imkânı sağlar.
- Cihazla Yapılabilecek Testler;
- Toz ve bulk numunelerde kristal yapı ve faz analizleri
- Hasarsız Kalıntı Gerilim Ölçümleri
- Kristal Yönelim Derecesi Analizleri (Texture-Pole Figure)
- Yüksek Sıcaklık Analizleri ( 0 ºC - 1500 ºC)
- İnce Film Analizleri (GI-XRD)
- Mikro alan noktasal analiz (400 µm)
- Kantitatif Faz Analizler
- Polimerlerin analizleri
- İlaç endüstrisinde belli bir malzeme içindeki polimorfların ve safsızlıkların tespit analizlerinde
- Metal ve alaşım analizlerinde
Analiz İstek Formuna Ulaşmak İçin Tıklayınız...